宽禁带功率器件动态参数测试系统圆满交付
多次洽谈，共识遂成！
2026年1月，深圳海明微半导体（以下简称‘海明微’）与西安众力为半导体科技有限公司（以下简称‘众力为’），双方团队经过多轮接洽，从需求分析、试样评测、方案讨论、商务洽谈终共识遂成，握手成约。
不负重托，载誉而归！
2026年3月众力为团队精心打磨，不负重托，历时两个月‘宽禁带功率器件动态参数测试系统’在海明微现场交机、培训圆满成功。
现场学习氛围高涨，海明微研发团队全员参与，众力为首席技术陈工从电路拓扑、测试原理、操作方法、波形解读、功能扩展、安全防护等方面娓娓展开。随后，海明微工程师们实操演练，表现出较高的水准。
图1 测试系统全貌（发货中）
图2 现场交机、培训
图3 客户实操演练
硬核实力，行业领先！
本次交付的宽禁带功率器件动态参数测试系统硬件‘匠心打造’，软件‘以人为本’，采用高集成度模块化设计，兼容第三代宽禁带功率器件动态性能检测，也预留了第四代宽禁带功率器件（Ga2O3、金刚石等）扩展测试能力（DHTOL，多脉冲测试等）。
01.顶奢硬件配置
02.高阶软件控制
延时校准功能：该系统具备板级时域延时校准功能，精度0.1ns，用于补偿系统布线，测量探头，示波器通道等时域延时误差用于补偿，确保开关损耗、动态导通电阻等参数的测量准确性。
标准自定义功能：辅助研发端精细化测试，开发该功能，每个参数采样标准对用户开放输入端口。
UI交互界面：所有测试条件均界面化输入，系统闭环处理，自动调节实现一键测试。
波形定位功能：对于已测得的参数，用户可用鼠标点击该参数，测试波形自动同步至该参数采样区域并放大，同步标定采样坐标。
软硬双阶短路保护功能：系统开发了软硬双阶短路保护功能，短路发生时，第一阶硬关断保护使能，栅驱动信号被强制关断，紧随其后，第二阶软关断保护使能，栅极驱动电压被拉至低电平，驱动关断，从而实现软硬双阶短路保护（该功能仅限GaN HEMT测试板）。
OPEN/SHORT预测试功能：通过FVMI、FIMV方式检测DUT无OPEN/SHORT异常，保护测试系统以及DUT二次损坏。
AI操作助手：软件开发了‘小白速成’、‘故障摸排’等AI教程，新手可通过语音对话，视频唤醒等学习方式，快速掌握操作技能或简易排故。
03.硬核测量能力
04.子板+母板架构
该系统采用Mother Board(测试器件种类区分)+Daughter Board（测试器件封装区分）架构，根据DUT，匹配对应封装子板，无需做管脚转接，即安装即测试。同时激励与测量单元紧密围绕DUT周围，确保测量精准性。
品质交付，合作共赢！
该系统成功交付，将助力海明微在功率器件产品研发、datasheet建立、出货质控等环节建立了科学的自控体系，为其产品在工程应用做好‘预处理’，极大提升其产品竞争力。双方进一步的就功率器件动态可靠性、应用评测等领域达成了更深入的合作意向。
客户介绍
海明微半导体是一家专注于功率半导体器件研发、生产、销售的高科技企业。专注于为全球客户提供高能效功率器件解决方案，从功率器件芯片研发、先进封装设计及应用方案开发，形成全品类SIC MOS、SIC IPM、顶部散热IGBT/整流管等产品。产品广泛应用于AI服务器电源、伺服驱动、光伏、储能、充电桩、新能源汽车、变频调速、工业通信等领域。